Abstract:

Bu çalışmada basit ve karmaşık yapıdaki iki ve üç boyutlu testlerin farklı test uzunluğu ve örneklem büyüklüğü koşullarında parametre kestirimleri yapılmış, kestirimlere ilişkin olarak elde edilen RMSE, yanlılık ve kestirilen parametreler ile gerçek parametreler arasındaki ilişki incelenmiştir. Çalışmanın verileri iki boyutlu basit, iki boyutlu karmaşık, üç boyutlu karmaşık ve üç boyutlu basit yapıya uygun olacak şekilde simülasyon yoluyla üretilmiştir. Veri setlerinin test uzunluğu 12 ve 48 madde; örneklem büyüklüğü 1000, 2000 ve 4000 olacak şekilde değiştirilmiştir. Bu şekilde ele alınan dört test yapısı ile 2 test uzunluğu ve 3 örneklem büyüklüğü koşulu çaprazlanarak (4x2x3) 24 koşul içeren desen oluşturulmuştur. Oluşturulan her koşula ilişkin olarak, madde ve birey parametreleri sabit tutulmak üzere, 25 tekrar yapılarak toplamda 600 veri seti oluşturulmuş ve analiz edilmiştir. Elde edilen sonuçlara göre madde parametrelerinin parametre kestirim iyiliği hem madde hem birey sayısındaki artışla artmaktadır. Ele alınan her bir koşulda d parametreleri aynı koşuldaki a parametrelerinden daha kararlı kestirilmiştir. Birey parametrelerinin kestirim iyiliği test uzunluğundaki artış ile artmaktadır. Yüksek korelasyon değerleri RMSE’nin düşük olduğu koşullarda elde edilmiştir. Ayrıca çalışmanın sonunda daha kararlı kestirim yapabilmek için gerekli test uzunluğu ve örneklem büyüklüğüne ilişkin öneriler geliştirilmeye çalışılmıştır.

Keywords: