Abstract:

Bu araştırmada güvenilir alt test ve toplam test puanı kestirimleri konusuna katkı sağlamak amacıyla alt test ve toplam test arasındaki ilişki hiyerarşik madde tepki kuramı modelleri ile araştırılmak istenmiştir. Çalışmada Üst Düzey Sıralı (Higher Order), İki Faktör (Bi-factor) ve hiyerarşik çok boyutlu madde tepki kuramı (ÇBMTK) modelleri ile kestirilen toplam test puanının ve alt test puanlarının RMSE ve güvenirlik değerleri alt test sayısı, alt test uzunluğu ve alt testler arasındaki korelasyonların büyüklüğü koşulları altında karşılaştırılmıştır. Ayrıca TEOG 2015 verileri üzerinde araştırmada kullanılan üç kestirim modelinin performansı incelenmiştir. Araştırmanın sonucunda iki ve üç boyutlu verilerde hemen hemen tüm koşullarda alt test uzunluğu ve alt testler arasındaki korelasyonun arttıkça üç kestirim modelinden elde edilen toplam test puanı için yetenek parametreleri kestirim hatasının azaldığı, kestirim güvenirliğinin ise arttığı bulunmuştur. Toplam test puanları için Hiyerarşik ÇBMTK model ile tüm koşullardadüşük RMSE değeri veyüksek güvenirlik değeri elde edilmiştir. Ayrıca korelasyonun 0.8 düzeyinde toplam test puanı için tüm modeller birbirine yakın RMSE ve güvenirlik değerleri ile kestirim yapmıştır. İki ve üç boyutlu verilerde alt test puanı için kestirilen yetenek parametrelerinin RMSE değerleri, Hiyerarşik ÇBMTK modelde alt test uzunluğu arttıkça azalırken alt testler arasındaki korelasyon düzeyinden etkilenmediği; Üst Düzey Sıralı modelde alt test uzunluğu ve alt testler arasındaki korelasyon arttıkça azaldığı; İki Faktör modelde ise alt test uzunluğu arttıkça azalırken alt testler arasındaki korelasyon arttıkça önemli düzeyde arttığı bulunmuştur. 

Keywords: