Özet:

CuInS2 yarıiletken filimleri püskürtme yöntemiyle cam tabanlar üzerine üç farklı taban sıcaklıklarında elde edilmiştir. X-ışını kırınım desenlerinden filmlerin chalcopyrite ve polikristal yapıda olduklarını saptanmıştır. Yapılanma katsayısı farklı taban sıcaklıkları için değerlendirilmiştir. SEM yüzey analizleri sıcaklığa bağlı olarak yüzey taneciklerinde farklı morfolojiler göstermiştir.CuInS2 semiconductor films were prepared at three substrate temperatures on glass substrates by spray pyrolysis method. The X-rays diffraction (XRD) spectra of the films have shown that the films produced are polycrystalline and chalcopyrite in structure. The texture coefficients were evaluated for different substrate temperatures. Scanning electron microscopy (SEM) surface micrographs show different morphologies of the surface grains, which are dependent on temperature. 

Anahtar Kelimeler: