Görüntüleme
22
İndirme
4
Sol-jel spin kaplama yöntemi kullanılarak ZnO ve ZnO:N ince filmler kuartz altlık üzerine hazırlandı. ZnO ince filmlere hava ortamında 400 oC’de ZnO:N ince filmlere ise N ortamında 700 oC sıcaklıkta 2 saat tavlama işlemi yapıldı. Hazırlanan ZnO ve ZnO:N ince filmlerin başlangıç çözeltisindeki N oranına göre yapısal, yüzeysel ve optik özellikleri x-ışını kırınımı (XRD), taramalı elektron mikroskobu (SEM) ve optik soğurma ölçümleriyle incelendi. N oranı arttıkça örneklerin yapısal, yüzeysel ve optik özelliklerinde değişimler olduğu ve bant aralığı değerinin oda sıcaklığında 30 meV azaldığı görüldü.
Alan : Fen Bilimleri ve Matematik; Mühendislik
Dergi Türü : Ulusal
Makale Detay 
Benzer Makaleler
Dergi Bilgisi
Eseri Dinleyin
Alıntı Yap
Bu Sayfayı Yazdırın
Paylaş
Mendeley
