Görüntüleme
15
İndirme
2
Bu çalışmada CdO ince filmleri cam altlıklar üzerine SILAR tekniği ile oda sıcaklığında farklı kalınlıklarda büyütüldü. Elde edilen ince filmlerin taramalı elektron mikroskobu (SEM), X-ışını difraksiyonu (XRD) ve UV vis spektrofotometrede ölçümleri alınarak incelendi. SEM görüntüleri CdO ince filmlerinin yüzey morfolojisinin kalınlık değişimi ile değiştiğini göstermiştir. XRD sonuçları büyütülen tüm numunelerin kübik yapıya sahip olduğunu ve tur sayısının değişimi ile piklerin şiddetlerinin değişim sergilediğini göstermiştir. Alınan optik soğurma ölçümleri ise tur sayısının artmasına bağlı olarak artan kalınlık miktarının band aralığını arttırdığını ve bu değerlerin 2.2 eV’den 2.7 eV’e kadar değiştiğini göstermiştir.
Alan : Fen Bilimleri ve Matematik
Dergi Türü : Uluslararası
Makale Detay 
Benzer Makaleler
PDF Görüntüle
Dergi Bilgisi
Eseri Dinleyin
Alıntı Yap
Bu Sayfayı Yazdırın
Paylaş
Mendeley
