Kullanım Kılavuzu
Neden sadece 3 sonuç görüntüleyebiliyorum?
Sadece üye olan kurumların ağından bağlandığınız da tüm sonuçları görüntüleyebilirsiniz. Üye olmayan kurumlar için kurum yetkililerinin başvurması durumunda 1 aylık ücretsiz deneme sürümü açmaktayız.
Benim olmayan çok sonuç geliyor?
Birçok kaynakça da atıflar "Soyad, İ" olarak gösterildiği için özellikle Soyad ve isminin baş harfi aynı olan akademisyenlerin atıfları zaman zaman karışabilmektedir. Bu sorun tüm dünyadaki atıf dizinlerinin sıkça karşılaştığı bir sorundur.
Sadece ilgili makaleme yapılan atıfları nasıl görebilirim?
Makalenizin ismini arattıktan sonra detaylar kısmına bastığınız anda seçtiğiniz makaleye yapılan atıfları görebilirsiniz.
Kurumsal Referanslarımız SED Quartile İstatistik S.S.S. Kullanım Kılavuzu Bize Ulaşın
Kurumsal Başvuru Dergi Başvurusu
Türkçe English
 Görüntüleme 1
Menü
Mendeley
Endnote
Deformation Methods for Investigation of the Deep Level Parameters in Semiconductors
1998
Dergi:  
Turkish Journal of Physics
Yazar:  
Özet:

In this paper deformation methods are offered to investigate deep level parameters in semiconductors. It is based on strain parameters measurements of compensated and overcompensated semiconductors. The dynamic changes of current flow in compensated and overcompensated samples of p-type Si: Ni and n-type Si: Mn under uniform pulse hydrostatic compression (UHC) was investigated. It was observed that in p-type Si: Ni samples ionization energy levels Ni at UHC increases, on the contrary in samples n-type Si: Mn it decreases. The ionization energy and baric coefficient of the shift of Ni and Mn levels were bounded.

Anahtar Kelimeler:

Atıf Yapanlar
Bilgi: Bu yayına herhangi bir atıf yapılmamıştır.
Benzer Makaleler
1. Effect of Cyclic Loading Treatment on the Compression Energy and Creep Properties of Machine-Harvested Seed Cotton
2024


  Detaylar
 PDF Görüntüle
2. Development of pulse mechanical seal calculation methods on the basis of its physical model construction
2020


  Detaylar
 PDF Görüntüle
3. Electron Swarm Parameters and Dielectric Properties of the Superconducting Binary Mixtures of He-H2
2021


  Detaylar
 PDF Görüntüle
4. Electrical Characterization of GaTe and GaTe:Cu Semiconductor Compounds
2001


  Detaylar
 PDF Görüntüle
5. Determining the deformation properties of crushed rock under compressive compression conditions
2023


  Detaylar
 PDF Görüntüle
6. Growth Mechanism and Some Properties of Cd1-xMnx Se Semimagnetic Semiconductor Thin Films
2003


  Detaylar
 PDF Görüntüle
Turkish Journal of Physics

Alan :   Fen Bilimleri ve Matematik

Dergi Türü :   Uluslararası

Metrikler
Makale : 1.313
Atıf : 223
Detaylı İncele
Turkish Journal of Physics