Kullanım Kılavuzu
Neden sadece 3 sonuç görüntüleyebiliyorum?
Sadece üye olan kurumların ağından bağlandığınız da tüm sonuçları görüntüleyebilirsiniz. Üye olmayan kurumlar için kurum yetkililerinin başvurması durumunda 1 aylık ücretsiz deneme sürümü açmaktayız.
Benim olmayan çok sonuç geliyor?
Birçok kaynakça da atıflar "Soyad, İ" olarak gösterildiği için özellikle Soyad ve isminin baş harfi aynı olan akademisyenlerin atıfları zaman zaman karışabilmektedir. Bu sorun tüm dünyadaki atıf dizinlerinin sıkça karşılaştığı bir sorundur.
Sadece ilgili makaleme yapılan atıfları nasıl görebilirim?
Makalenizin ismini arattıktan sonra detaylar kısmına bastığınız anda seçtiğiniz makaleye yapılan atıfları görebilirsiniz.
 Görüntüleme 9
 İndirme 2
Işık Altında Elektrodepozisyon Yöntemi ile Üretilmiş GaxOyNz/p-Si Diyot Yapısının Elektriksel Karakterizasyonu
2022
Dergi:  
Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
Yazar:  
Özet:

Bu çalışmada, GaxOyNz yarıiletken materyal LED grubu aydınlatması altında elektrodepozisyon tekniği kullanılarak p-Si (100) üzerine biriktirilmiştir. Galyum Nitrat, Amonyum Nitrat ve deiyonize su karışımı kullanılarak elektrolit çözeltisi hazırlanmıştır. Platin levha ve p-Si sırasıyla anot ve katot olarak kullanılmıştır. GaxOyNz/p-Si aygıt yapısının üretim aşamasından sonra, 20-100 oC aralığında 10 oC adımlarla sıcaklığa bağımlı Akım-Gerilim (I-V) ölçümleri alınarak iki boyutlu arayüzey durum yoğunluğu dağılımı analizi yapılmıştır. Yapılan analizler sonucunda GaxOyNz/p-Si aygıt yapısının doğrultucu diyot özelliği sergilediği görülmüştür.

Anahtar Kelimeler:

Electrical Characterization Of The Gaxoynz/p-si Diode Structure Manufactured By Electrodeposition Method Under Illumination
2022
Yazar:  
Özet:

In this study, GaxOyNz films were deposited onto p-Si (100) substrates by using electrodeposition technique under illumination. A mixture of gallium nitrate, ammonnium nitrade and distilled water was utilized as electrolyte. Platinum and p-Si were used as anode and cathode, respectively. After the deposition process of GaxOyNz/p-Si structure, temperature dependent Current-Voltage (I-V) measurements were performed and characterized between 20 oC and 100 oC in 10 oC steps to analyses of two dimensional density of interface states of the device. Characteristics show that GaxOyNz/p-Si device structure exhibits rectification behavior.

Atıf Yapanlar
Bilgi: Bu yayına herhangi bir atıf yapılmamıştır.
Benzer Makaleler




Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

Dergi Türü :   Uluslararası

Metrikler
Makale : 2.053
Atıf : 3.856
2023 Impact/Etki : 0.187
Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi