Görüntüleme
5
İndirme
3
Bu çalışmada, ZnO ince filmler sırasıyla (1 1 1) yönelimli n-tipi ve (1 0 0) yönelimli p-tipi Si altlıklar üzerine SILAR ve dönel kaplama (spin-coating) yöntemleri kullanılarak büyütülmüştür. Numunelerin XRD, SEM ve PL ölçümleri alınmıştır. XRD sonuçları, ZnO piklerinin varlığını göstermiştir. SEM sonuçları, yüzeylerin her iki yöntemde de homojen olduğunu ve SILAR yöntemiyle büyütülen örneklerde nano çubukların bulunduğunu göstermiştir. PL sonuçları, numunelerin farklı dalga boylarında ışık yaydığını göstermiştir. Örneklerden farklı güçler altında PL ölçümleri alınmış ve yorumlanmış ve bir örneğin artan uyartım gücü ile daha yüksek bir emisyon yoğunluğuna ulaştığı tespit edilmiştir.
In this study, ZnO thin films were deposited on (1 1 1) oriented n-type and (1 0 0) oriented p-type Si substrates using SILAR and spin-coating methods, respectively. The XRD, SEM, and PL measurements of the samples were performed. The XRD results showed the presence of ZnO peaks. The SEM results showed that the surfaces were homogeneous in both methods, and nanorods were present in the samples grown by the SILAR method. The PL results showed that the samples emitted light at different wavelengths. The PL results under different powers were interpreted from the samples, and it was determined that this sample reached a higher emission intensity with increasing excitation power.
Alan : Fen Bilimleri ve Matematik
Dergi Türü : Uluslararası
Makale Detay 
Benzer Makaleler
PDF Görüntüle
Dergi Bilgisi
Eseri Dinleyin
Alıntı Yap
Bu Sayfayı Yazdırın
Paylaş
Mendeley
